ლითონის პრინადების გამოვლენის დამატებითი ფუნქცია
Ლითონის პრინადების მაღალი დახვეწის გამოვლენა წარმოადგენს ინოვაციურ მიდგომას პროდუქტის ხარისხისა და უსაფრთხოების უზრუნველყოფის მიმართ სხვადასხვა ინდუსტრიაში. ეს საშუალება იყენებს რამდენიმე გამოვლენის მეთოდს, მათ შორის რენტგენის ფლუორესცენციას (XRF), ატომურ აბსორბციულ სპექტროსკოპიას (AAS) და ინდუქციურად წყვილი პლაზმურ მას-სპექტრომეტრიას (ICP-MS), რათა ლითონის მავნების იდენტიფიცირება და რაოდენობრივი განსაზღვრა შეასრულოს უმაღლესი სიზუსტით. სისტემა შეუძლია გამოავლინოს ლითონების საშუალო რაოდენობა ppb-ის (მილიარდში ნაწილი) დონეზე, რაც მის გამოყენებას აუცილებელს ხდის ფარმაცევტულ, საკვებ-სასმელ, ელექტრონიკულ და გარემოს მონიტორინგის ინდუსტრიებში. ტექნოლოგია მოიცავს ავტომატიზირებულ ნიმუშების აღების სისტემებს, რეალურ დროში ანალიზის შესაძლებლობას და განვითარებულ ალგორითმებს მონაცემების დამუშავებისთვის, რაც უზრუნველყოფს უწყვეტ მონიტორინგს და სწრაფ შედეგების მიღებას. გამოვლენის პროცესი არადამაზიანებელია და მინიმალურ ნიმუშის მომზადებას მოითხოვს, რაც საშუალებას აძლევს მასალების მაღალი სიჩქარის სკრინინგს. გარდა ამისა, სისტემა შეიცავს გამჭვირვალე კალიბრაციის პროტოკოლებს და ხარისხის კონტროლის ზომებს შედეგების მუდმივობისა და საიმედოობის უზრუნველსაყოფად. მისი მრავალფეროვნება საშუალებას აძლევს სხვადასხვა ტიპის ნიმუშების ანალიზს, მათ შორის სითხეების, მყარი და ნახევრად მყარი მასალების, ხოლო ამასთან ინარჩუნებს მაღალ სიზუსტეს და აღდგენადობას. ტექნოლოგია ასევე შეიცავს მონაცემთა მართვის სრულ სისტემებს, რომლებიც ამარტივებს რეგულატორულ შესაბამისობას და დოკუმენტაციის მოთხოვნებს.