금속 불순물에 대한 고급 탐지
금속 불순물에 대한 고급 검출 기술은 다양한 산업 분야에서 제품의 품질과 안전성을 보장하는 첨단 접근 방식을 제공한다. 이 정교한 기술은 X선 형광(XRF), 원자흡수분광법(AAS), 유도결합 플라즈마 질량분석법(ICP-MS) 등 여러 가지 검출 방법을 활용하여 금속 오염 물질을 전례 없는 정밀도로 식별하고 정량한다. 해당 시스템은 수십억 분의 일(ppb) 수준까지 극미량의 금속을 검출할 수 있어 제약, 식음료, 전자기기 및 환경 모니터링 산업 분야에서 필수적인 역할을 한다. 이 기술은 자동 샘플링 시스템, 실시간 분석 기능, 고급 데이터 처리 알고리즘을 갖추고 있어 지속적인 모니터링과 신속한 결과 보고가 가능하다. 검출 과정은 비파괴적이며 최소한의 샘플 준비만 필요하므로 높은 처리량의 재료 스크리닝이 가능하다. 또한 시스템은 스마트 교정 프로토콜과 품질 관리 조치를 포함하여 일관되고 신뢰할 수 있는 결과를 보장한다. 다양한 샘플 형태(액체, 고체, 반고체 물질 등)를 분석할 수 있는 유연성 덕분에 높은 정확도와 재현성을 유지하면서도 폭넓게 적용할 수 있다. 더불어 규제 준수 및 문서화 요구사항을 지원하기 위한 포괄적인 데이터 관리 시스템도 포함되어 있다.